[发明专利]一种基于PI控制器的太阳绝对辐射计的测量方法有效
| 申请号： | 201711122465.4 | 申请日： | 2017-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN107990977B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 衣小龙;贾平;叶新;方伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 赵勍毅 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开一种基于PI控制器的太阳绝对辐射计的测量方法。该方法包括获取黑体腔的温度阶跃响应曲线，并构建黑体腔的数学模型；采用仿真软件仿真优化PI控制器的参数；在辐射观测阶段，采用PI控制器调节黑体腔的电功率，直至将腔温调回热平衡状态，从而获得第一平衡温度和补偿电功率；在电标定阶段，采用PI控制器调节黑体腔的电功率，直至将腔温调回热平衡状态，从而获得第二平衡温度和电标定功率。该方法采用PI控制器调节黑体腔的电功率，缩短开关快门时刻的调节时间，缩短太阳总辐照度监测仪的测量周期，且避免了传统测量方法中测量计算公式由于光电不等效原因而导致测量精度下降的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 pi 控制器 太阳 绝对 辐射计 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于PI控制器的太阳绝对辐射计的测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取黑体腔的温度阶跃响应曲线，并构建黑体腔的数学模型；采用仿真软件仿真优化PI控制器的参数；在辐射观测阶段，采用PI控制器调节黑体腔的电功率，直至将腔温调回热平衡状态，从而获得第一平衡温度和补偿电功率；在电标定阶段，采用PI控制器调节黑体腔的电功率，直至将腔温调回热平衡状态，从而获得第二平衡温度和电标定功率。
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