[发明专利]一种无源UHFRFID芯片存储容量的测试方法在审
| 申请号： | 201711126442.0 | 申请日： | 2017-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN107833593A | 公开（公告）日： | 2018-03-23 |
| 发明（设计）人： | 冀京秋;贺明;陈伯俊 | 申请（专利权）人： | 中京复电(上海)电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/36;G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海诺衣知识产权代理事务所(普通合伙)31298 | 代理人： | 韩国辉 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法，包括使所述RFID标签读写器向一待测试芯片的预定存储区反复发送写入命令以反复写入一预定数据，直到所述预定存储区被写满；使所述RFID标签读写器向所述待测试芯片发送读取命令，读取所述预定存储区；对比写入数据与读取到的数据是否一致，如一致则记录读取到的数据的位数作为所述待测试芯片的预定存储区的存储容量。本发明获得了以下有益效果可对无源UHF RFID芯片的预定存储区的存储容量进行有效的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 无源 uhfrfid 芯片 存储容量 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试芯片的预定存储区反复发送写入命令以反复写入一预定数据，直到所述预定存储区被写满；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；步骤6，使所述RFID标签读写器向所述待测试芯片发送读取命令，读取所述预定存储区；步骤7，对比写入数据与读取到的数据是否一致，如一致则记录读取到的数据的位数作为所述待测试芯片的预定存储区的存储容量；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。
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