[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201711129871.3 申请日: 2017-11-15
公开(公告)号: CN109273531A 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 沈冠杰;林志雄;张嘉德 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 冯志云;王芝艳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 半导体装置包含鳍结构,其设置于基底上且沿着一方向水平延伸,以及栅极部件,其包含栅极介电层和至少一第一金属栅极层覆盖栅极介电层,其中栅极介电层和第一金属栅极层跨过鳍结构,以覆盖鳍结构的中央部分,且更沿着前述方向延伸,以覆盖鳍结构的至少一侧边部分,侧边部分位于栅极部件的侧壁的垂直投影之外。
搜索关键词: 鳍结构 栅极介电层 半导体装置 金属栅极层 栅极部件 覆盖 垂直投影 方向水平 方向延伸 侧壁 侧边 基底 跨过 延伸
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:一鳍结构,设置于一基底上,沿着一方向水平延伸;以及一栅极部件,横越该鳍结构,以覆盖该鳍结构的一中央部分,且更沿着该方向延伸,以覆盖该鳍结构的至少一侧边部分,且该侧边部分位于该栅极部件的一侧壁的一垂直投影以外。
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