[发明专利]快速测量薄膜材料的热导率的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201711130271.9 申请日: 2017-11-15
公开(公告)号: CN107843616B 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 项晓东;武跃维;汪晓平 申请(专利权)人: 宁波星河材料科技有限公司
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 上海一平知识产权代理有限公司 31266 代理人: 姜龙;徐迅
地址: 315000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种快速测量薄膜材料的热导率的装置和方法,具体地,该装置包括控制设备、时钟同步器、激光器、快速测温仪以及热导率输出设备;控制设备和时钟同步器信号连接,时钟同步器同时与激光器和快速测温仪信号连接;在工作状态下,控制设备向时钟同步器发送启动信号,激光器和快速测温仪协调联动,激光器发出激光照射到样品表面,与此同时,快速测温仪捕捉在样品加热过程中不同时间点,同一指定位置的样品的表面温度,将测得的数据输入热导率输出设备,得到所需热导率参数。本发明的装置结构简单,方法高效准确,可为目前的各种超薄半导体薄膜热物性的设置提供可靠的参数数据。
搜索关键词: 快速 测量 薄膜 材料 热导率 装置 方法
【主权项】:
一种快速测量薄膜材料的热导率的装置,其特征在于,所述装置包括控制设备、时钟同步器、激光器、快速测温仪以及热导率输出设备;所述控制设备和所述时钟同步器信号连接,所述时钟同步器同时与所述激光器和所述快速测温仪信号连接;在工作状态下,所述控制设备向所述时钟同步器发送启动信号,所述激光器和所述快速测温仪协调联动,所述激光器发出激光照射到样品表面,与此同时,所述快速测温仪捕捉在所述样品加热过程中不同时间点,同一指定位置的所述样品的表面温度,将测得的数据输入所述热导率输出设备,得到所需热导率参数。
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