[发明专利]一种漏光检测方法及装置有效
申请号: | 201711138968.0 | 申请日: | 2017-11-16 |
公开(公告)号: | CN109801322B | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 李小明;黄春来;孙旺;张海涛;张元立 | 申请(专利权)人: | 合肥欣奕华智能机器有限公司 |
主分类号: | G06T7/529 | 分类号: | G06T7/529;G06T7/90;G06T5/00 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 230013 安徽省合*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提供了一种漏光检测方法及装置,通过对待检测屏幕显示的灰度图像进行处理,确定漏光的缺陷像素,并以此判断待检测屏幕是否漏光,提升了检测效率和准确率。上述方法包括:获取待检测屏幕显示的灰度图像,其中,上述灰度图像为已去除网纹的图像;根据上述灰度图像中像素的灰度值,对上述灰度图像进行灰度拉伸;将拉伸后的灰度图像转换为二值图像,并确定上述二值图像中满足预设灰度阈值的缺陷像素;根据上述缺陷像素的个数是否满足预设漏光阈值,判断上述待检测屏幕是否漏光。 | ||
搜索关键词: | 一种 漏光 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种漏光检测方法,其特征在于,该方法包括:获取待检测屏幕显示的灰度图像,其中,所述灰度图像为已去除网纹的图像;根据所述灰度图像中像素的灰度值,对所述灰度图像进行灰度拉伸;将拉伸后的灰度图像转换为二值图像,并确定所述二值图像中满足预设灰度阈值的像素为缺陷像素;根据所述缺陷像素的个数是否满足预设漏光阈值,判断所述待检测屏幕是否漏光。
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