[发明专利]特种光纤端面几何测试系统及方法在审
| 申请号： | 201711139436.9 | 申请日： | 2017-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN107941466A | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 李丁珂;杨笛;陶金金;方勇;童维军;刘彤庆;杨晨 | 申请（专利权）人： | 长飞光纤光缆股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)42222 | 代理人： | 蔡瑞 |
| 地址： | 430073 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种特种光纤端面几何参数测试系统及方法，包括位移平台、光纤夹具、显微系统、摄像头、工控机、注入光源。用所述光纤夹具固定待测光纤一端，通过位移平台将待测光纤端面移入显微系统的视场内，通过所述显微系统观测待测光纤端面图像。注入光源连接待测光纤另一端，以使所述摄像头观测到稳定且点亮的光纤纤芯，所述摄像头与工控机连接，用于将待测光纤端面的图像发送到工控机进行处理以计算出待测光纤几何参数。本发明不仅可以测得圆形/椭圆形包层光纤的几何参数，还可以测得多边形包层光纤的几何参数。本发明可以测试有源光纤以及相似结构的特种光纤端面的几何参数，将通信光纤端面几何参数测试系统的测试范围扩展到特种光纤领域。 | ||
| 搜索关键词： | 特种 光纤 端面 几何 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种特种光纤端面几何参数测试系统，其特征在于，包括位移平台、光纤夹具、显微系统、摄像头、工控机、注入光源，所述光纤夹具固定待测光纤一端，通过所述位移平台将待测光纤端面移入所述显微系统的视场内，通过所述显微系统观测光纤端面图像，调节所述位移平台位移旋钮，使得光纤端面处于摄像头焦点处，以便所述摄像头拍摄到对焦良好的图像，所述注入光源连接待测光纤另一端，使得所述摄像头观测到稳定且点亮的光纤纤芯，所述摄像头与工控机连接，用于将待测光纤端面的图像发送到工控机进行处理以计算出待测光纤几何参数。
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