[发明专利]一种用于TDI CCD探测器焦面调试的方法及系统

摘要

本发明解决的技术问题是提供一种用于TDI CCD探测器焦面调试的方法,属于高分辨红外成像系统技术领域，为一种不受成像方式限制的TDI CCD探测器焦面调试方法及适用于该方法的系统，其是利用示波器测试电压值和测试灰度值将星点靶标像的信息进行读取，通过电压值和信号值直接反映出TDI CCD探测器焦面的测试结果，以此对探测器的焦面进行调试,提高了TDI CCD探测器焦面调试精度。此方案不仅适用于摆镜型成像系统也适用于整机摆扫型成像系统，且可以调试到精准的焦面位置，成像质量得到保证，满足高分辨率成像系统的要求。

主权项

1.一种用于TDI CCD探测器焦面调试系统，其特征在于，包括光电综合测试系统(1)、成像系统、第一经纬仪(3)、第二经纬仪(4)、图像显示器和示波器；所述的光电综合测试系统由平行光管、靶标、光源；其能够选择不同尺寸的靶标，以及选择相对应不同谱段探测器的光源；光源经不同尺寸的靶标后，通过平行光管出射平行光，形成不同尺寸的靶标像；所述的第一经纬仪、第二经纬仪用于使成像系统与光电综合测试系统的光轴对准；所述的成像系统包括TDI CCD探测器、与探测器匹配的光学系统；光学系统、TDI CCD探测器为待调试对象；还包括图像采集系统，图像采集系统用于实时采集TDI CCD探测器的图像输出给图像显示器；示波器用于显示TDI CCD探测器输出的电压信号。