[发明专利]时间分辨的带电粒子显微术有效
申请号: | 201711144530.3 | 申请日: | 2017-11-17 |
公开(公告)号: | CN108122725B | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | E.R.基伊夫特 | 申请(专利权)人: | FEI公司 |
主分类号: | H01J37/26 | 分类号: | H01J37/26;G01N23/2202 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 周学斌;郑冀之 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种使用带电粒子显微术来研究样本的方法,该方法包括以下步骤:‑使用主源来产生沿着射束路径传播的带电粒子脉冲射束;‑在所述射束路径中的照射位置处提供样本;‑使用次源来产生样本的重复激励;‑使用检测器来登记在每次所述激励之后穿过样本的所述射束中的带电粒子,其中:‑所述主源被配置成由所述次源的每个激励产生一串多个脉冲;‑所述检测器被配置成包括像素的集成阵列,所述像素每一个都具有单独的读出电路,以登记所述串中的单独粒子的到达时间。 | ||
搜索关键词: | 时间 分辨 带电 粒子 显微 | ||
【主权项】:
一种使用带电粒子显微术来研究样本的方法,该方法包括以下步骤:‑ 使用主源来产生沿着射束路径传播的带电粒子脉冲射束;‑ 在所述射束路径中的照射位置处提供样本;‑ 使用次源来产生样本的重复激励;‑ 使用检测器来登记在每次所述激励之后穿过样本的所述射束中的带电粒子,其特征在于:‑ 所述主源被配置成由所述次源的每个激励产生一串多个脉冲;‑ 所述检测器被配置成包括像素的集成阵列,所述像素每一个都具有单独的读出电路,以登记所述串中的单独粒子的到达时间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于FEI公司,未经FEI公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711144530.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:通用非侵入式室阻抗测量系统及相关方法
- 下一篇:等离子体处理装置和喷头