[发明专利]逐次逼近模数转换器及其数字校准方法和装置有效
| 申请号： | 201711145268.4 | 申请日： | 2017-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN109802674B | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 陈胜胜;李奇峰;杨云 | 申请（专利权）人： | 比亚迪半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 | 代理人： | 张小燕 |
| 地址： | 518119 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种逐次逼近模数转换器及其数字校准方法和装置，所述逐次逼近模数转换器包括数模转换模块DAC、比较器和SAR逻辑单元，所述方法包括以下步骤：获取需要校准的电容所对应转换位的校准码，按照正常逐次逼近方式对输入的模拟信号进行转换以获得二进制转换值，计算二进制转换值中转换值为1所对应转换位的校准码的总和；计算二进制转换值与需要校准的电容所对应的准换位中转换值为1所对应转换位的校准码的总和之间的差值，以获得校验后的ADC的转换值。该方法可以有效校准由于寄生电容和工艺制造误差带来的电容之间的失配误差，避免因失配误差造成电容之间二倍关系不精确的问题，从而可有效提高ADC的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 逐次 逼近 转换器 及其 数字 校准 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于逐次逼近模数转换器的数字校准方法，其特征在于，所述逐次逼近模数转换器包括数模转换模块DAC和比较器，所述DAC包括低段位部分和高段位部分，所述低段位部分和所述高段位部分均包括容值呈二倍关系递增的L个电容，且所述低段位部分的L个电容中每个电容的一端分别与补偿电容的一端、耦合电容的一端相连，所述高段位部分的L个电容中每个电容的一端与所述耦合电容的另一端相连后作为所述ADC的输出端与所述比较器的第一输入端相连，所述低段位部分的L个电容中每个电容的另一端、所述高段位部分的L个电容中每个电容的另一端及所述补偿电容的另一端分别与模拟信号输入端、电压参考端或地相连，所述比较器的第二输入端与共模电压提供端相连，所述方法包括以下步骤：获取需要校准的电容所对应转换位的校准码；按照正常逐次逼近方式对输入的模拟信号进行转换以获得二进制转换值；计算所述二进制转换值中转换值为1所对应转换位的校准码的总和；以及计算所述二进制转换值与所述二进制转换值中转换值为1所对应转换位的校准码的总和之间的差值，以获得校验后的ADC的转换值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于比亚迪半导体股份有限公司，未经比亚迪半导体股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711145268.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种带频移的频率锁定环
- 下一篇：一种SAR ADC高精度电容阵列校正方法
