[发明专利]功率半导体器件及其制造方法有效
申请号: | 201711147902.8 | 申请日: | 2017-11-17 |
公开(公告)号: | CN107910267B | 公开(公告)日: | 2023-09-08 |
发明(设计)人: | 杨彦涛;徐丹;陈琛 | 申请(专利权)人: | 杭州士兰集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;张靖琳 |
地址: | 310018 浙江省杭州市杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本申请公开了功率半导体器件及其制造方法。该方法包括:在半导体衬底中形成多个沟槽,所述多个沟槽包括分别位于所述半导体衬底的第一区域至第三区域的第一至第三沟槽;在所述第一沟槽和所述第二沟槽中形成分裂栅结构;在所述第三沟槽中形成屏蔽布线;在所述半导体衬底中体区;在所述体区中形成源区;以及形成分别与所述源区、栅极导体和屏蔽布线电连接的源极电极、栅极电极和屏蔽电极,其中,在所述第三沟槽上部形成隔离层,所述屏蔽电极经由穿过所述隔离层的接触孔到达所述屏蔽布线。该方法利用独立引出电极的屏蔽布线改善电荷平衡效果,并且采用隔离层使得不同区域的分裂栅结构和屏蔽布线可以在公共的步骤中形成,从而降低制造成本。 | ||
搜索关键词: | 功率 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种功率半导体器件的制造方法,包括:在第一掺杂类型的半导体衬底中形成多个沟槽,所述多个沟槽包括分别位于所述半导体衬底的第一区域至第三区域的第一至第三沟槽;在所述第一沟槽和所述第二沟槽中形成分裂栅结构,所述分裂栅结构包括屏蔽导体、栅极导体和夹在二者之间的第二绝缘层;在所述第三沟槽中形成屏蔽布线;在所述半导体衬底邻接沟槽的区域中形成第二掺杂类型的体区,所述第二掺杂类型与所述第一掺杂类型相反;在所述体区中形成所述第一掺杂类型的源区;以及形成分别与所述源区、源极导体和屏蔽布线电连接的源极电极、栅极电极和屏蔽电极,其中,在所述第三沟槽上部形成隔离层,所述屏蔽布线位于所述第三沟槽下部,所述屏蔽电极经由穿过所述隔离层的接触孔到达所述屏蔽布线,所述屏蔽布线与所述屏蔽导体电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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