[发明专利]一种检测并区分透明玻璃盖板上下表面缺陷的装置及方法在审
申请号: | 201711148093.2 | 申请日: | 2017-11-17 |
公开(公告)号: | CN107764841A | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
发明(设计)人: | 吴易明;张保军;姚震;樊鹏格;路超 | 申请(专利权)人: | 西安中科光电精密工程有限公司 |
主分类号: | G01N21/958 | 分类号: | G01N21/958;G01N21/01 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人: | 姚咏华 |
地址: | 710077 陕西省西安市高新区丈八五*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种检测并区分透明玻璃盖板上下表面缺陷的装置及方法,检测装置包括设置于待测透明玻璃盖板上的成像相机,成像相机通过光学镜头对准待测透明玻璃盖板实现表面缺陷的检测;光学镜头的景深范围远小于待测透明玻璃盖板的厚度,光学镜头光轴与待测透明玻璃盖板平面严格垂直,待测透明玻璃盖板成像区域的四个直角与成像相机CCD的距离偏差低于光学镜头景深的1/5;待测透明玻璃盖板整体在光学镜头焦距位置波动距离小于景深的1/4,保证采集的所有图像具有良好、一致的清晰度。此检测装置可在50ms内对单个视场范围内透明玻璃盖板缺陷及位置的检测,不仅减少人力投入,且提高了检测效率;能输出缺陷检测的图像。 | ||
搜索关键词: | 一种 检测 区分 透明 玻璃 盖板 上下 表面 缺陷 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种检测并区分透明玻璃盖板上下表面缺陷的装置,其特征在于,检测装置包括设置于待测透明玻璃盖板上的成像相机,成像相机通过光学镜头对准待测透明玻璃盖板实现表面缺陷的检测;所述光学镜头的景深范围远小于待测透明玻璃盖板的厚度,光学镜头光轴与待测透明玻璃盖板平面严格垂直,待测透明玻璃盖板成像区域的四个直角与成像相机CCD的距离偏差低于光学镜头景深的1/5;所述待测透明玻璃盖板整体在光学镜头焦距位置波动距离小于景深的1/4。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安中科光电精密工程有限公司,未经西安中科光电精密工程有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711148093.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种PCB板检测装置及方法
- 下一篇:一种工业CT组合升降机构