[发明专利]一种红外成像系统冷反射黑斑的修复方法有效

专利信息
申请号: 201711153720.1 申请日: 2017-11-17
公开(公告)号: CN107860478B 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: 杨超;王沛;毛建森 申请(专利权)人: 北京长峰科威光电技术有限公司
主分类号: G01J5/06 分类号: G01J5/06
代理公司: 11333 北京兆君联合知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 初向庆<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 100195 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种红外成像系统冷反射黑斑的修复方法,红外成像系统出厂前出现冷反射黑斑时,针对图像的每一个像素计算其分布参量并存储在系统中,同时存储当时的温度TS及出厂前非均匀性系数标定的温度T0;设备上电使用时,从存储器件中读出各像素的分布参量以及TS、T0;设备上电非均匀校正时,记录校正时的温度Tc;设备使用时,对每个像素进行非均匀校正,并根据当前系统温度T,以及TS、T0、Tc,实时计算温度相关性系数,根据分布参量及温度相关性系数计算出每个像素的修复参数,对每个像素的非均匀校正结果叠加修复参数,最后输出冷反射黑斑修复后的图像。
搜索关键词: 一种 红外 成像 系统 反射 黑斑 修复 方法
【主权项】:
1.一种红外成像系统冷反射黑斑的修复方法,其特征在于,包括以下步骤:/n(1)红外成像系统出厂前测试时,当图像出现冷反射黑斑时,针对图像的每一个像素计算其分布参量δi,j,计算方式如下:/nδi,j=Xij—Xi,j/n其中,Xi,j为探测器输出任一像素的原始数据,Xij为整幅图像的均值;/n同时在红外成像系统的存储器中存储所述布参量δi,j,以及此时的温度TS;/n(2)红外成像系统出厂前进行非均匀性系数标定时,在红外成像系统的存储器中记录并存储标定时的温度T0;/n(3)红外成像系统使用前,开机上电时,先从存储器件中读出存储的所述分布参量δi,j,以及TS、T0,然后进行非均匀校正,记录并存储进行非均匀校正时的温度Tc;/n(4)红外成像系统使用过程中,按照预设周期进行非均匀校正,在每个非均匀校正周期内,对每一帧图像的每一个像素进行非均匀校正并存储校正结果;/n同时获取每次非均匀校正时的系统温度T,并按以下公式计算出温度相关性系数η:/nη=τ[(T-T0)]/[(Ts-T0)-(Tc-T0)/(Ts-T0)]/n =τ(T-Tc)/(Ts-T0)/n其中:/nη:表征冷反射黑斑随温度变化的温度相关性系数;/nτ:归一化的冷反射强度-温度增益系数;/nT:系统当前温度;/nT0:探测器出厂标定时的温度;/nTs:出厂前计算分布参量δi,j时的温度;/nTc:使用前非均匀校正时的温度;/n(5)根据步骤(1)得到的布参量δi,j、步骤(4)得到的出温度相关性系数η,对获取的每一帧图像,对其每一个像素(i,j),按以下公式计算出其修复参数Δij:/nΔi,j=ηδi,j/n(6)对步骤(4)得到的每一帧图像的每一个像素的非均匀校正结果,叠加步骤(5)所得的修复参数Δi,j,最后输出冷反射黑斑修复后的图像。/n
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