[发明专利]一种薄片材料电磁参数测试装置及方法有效
| 申请号： | 201711153883.X | 申请日： | 2017-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN109813734B | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 张云鹏;李恩;李亚峰 | 申请（专利权）人： | 成都恩驰微波科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四川省成都市高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种薄片材料电磁参数测试装置及方法，属于微波测试技术领域。包括两个同轴转接头1、两段平行导体墙2、两段微带线3、共地连接块4、待测样品5、导带连接片6、柔性泡沫支撑块7、下压块8、弹簧顶针9、下压夹具10、立座11、两个移动平台12、两个凹槽17和底座13。所述两段微带线3分别与两个同轴转接头1相连，且共直线地位于两个等高的移动平台12上；所述待测样品5置于共地连接块4上方且共直线地位于两段微带线3之间；所述导带连接片6位于待测样品正上方。本发明提供的薄片材料电磁参数测试装置及方法能够实现待测样品的快速取放，能够在待测样品两侧执行TRL校准，减小了传统传输反射法测试系统的误差，提高了测试准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄片 材料 电磁 参数 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种薄片材料电磁参数测试装置，包括两个同轴转接头1、两段平行导体墙2、两段微带线3、共地连接块4、待测样品5、导带连接片6、柔性泡沫支撑块7、下压块8、弹簧顶针9、下压夹具10、立座11、两个移动平台12、两个凹槽17和底座13；所述两段微带线3分别与两个同轴转接头1相连，且共直线地位于两个等高的移动平台12上；所述待测样品5置于共地连接块4上方且共直线地位于两段微带线3之间；所述共地连接块4位于两个移动平台12的凹槽17内；所述导带连接片6位于待测样品正上方，可通过与下压夹具10连接的弹簧顶针9和其下方的下压块8下压后与微带线3紧密接触。
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