[发明专利]基于矩阵分解的微波热成像无损检测系统及检测方法在审
申请号: | 201711155353.9 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN107782748A | 公开(公告)日: | 2018-03-09 |
发明(设计)人: | 张宏;吴瑞坤;徐鲁雄;严明忠;张荣刚;陈国钦;李金赐 | 申请(专利权)人: | 福建师范大学福清分校 |
主分类号: | G01N22/02 | 分类号: | G01N22/02 |
代理公司: | 福州科扬专利事务所35001 | 代理人: | 何小星 |
地址: | 350300 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明涉及基于矩阵分解的微波热成像无损检测系统,包括微波激励装置和热成像监测装置;微波激励装置包括微波信号发生器、微波信号放大器、微波激励传感器和吸波材料;热成像监测装置包括热像仪、数据采集处理装置;数据采集处理装置分别与微波信号发生器和热像仪连接,从而获得被测物的温度变化数据。该基于矩阵分解的微波热成像无损检测系统能够解决对不同类型缺陷进行快速成像和分离,突出缺陷范围热空间模式特征提取,解决了邻近缺陷由于温度混叠无法定位、分离和亚表面缺陷损伤面积难以有效量化问题;解决了对缺陷的自动分离问题,能对不同能量的撞击缺陷和损伤面积进行快速成像。 | ||
搜索关键词: | 基于 矩阵 分解 微波 成像 无损 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
基于矩阵分解的微波热成像无损检测系统,其特征在于:包括微波激励装置和热成像监测装置;微波激励装置包括微波信号发生器(1)、微波信号放大器(2)、微波激励传感器(3)和吸波材料(4);热成像监测装置包括热像仪(5)和数据采集处理装置(6);数据采集处理装置分别与微波信号发生器和热像仪连接,从而获得被测物的温度变化数据。
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