[发明专利]一种ESD器件串联电阻的电阻结构有效
申请号: | 201711155427.9 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN107731795B | 公开(公告)日: | 2019-10-25 |
发明(设计)人: | 李伊珂;李涅 | 申请(专利权)人: | 清华四川能源互联网研究院 |
主分类号: | H01L23/64 | 分类号: | H01L23/64 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 郭彩红;詹永斌 |
地址: | 610000 四川省成都市天*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供了一种ESD器件串联电阻的电阻结构,把多晶硅电阻分成N个小部分,每一小部分均通过各自对应的Contact和Via连接到上部金属层;每一小部分所对应的Contact和Via及连接到上部金属层构成了一个独立单元;所述Via和上部金属层采用金属铝材料;所述Contact采用金属铝材料或铝合金材料;利用金属铝的热容特性,巧妙利用现有结构,在通过同样的ESD电流而导致发热时,不会导致电阻被损坏,同时,能大大缩小ESD器件所在电路整体尺寸。 | ||
搜索关键词: | 一种 esd 器件 串联 电阻 结构 | ||
【主权项】:
1.一种ESD器件串联电阻的电阻结构,其特征在于:把多晶硅电阻分成N个小部分,每一小部分均通过各自对应的Contact和Via连接到上部金属层;每一小部分所对应的Contact和Via及连接到上部金属层构成了一个独立单元;所述Via和上部金属层采用金属铝材料;所述Contact采用金属铝材料或铝合金材料;所述N为大于等于2的自然数;所述多晶硅电阻为圆环状,对于同一层的上部金属层,将位于同一等势线上的金属连接在一起,间隔地位于电阻的等势线上;所述上部金属层包括第一金属层和顶部金属层。
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