[发明专利]一种ESD器件串联电阻的电阻结构有效

专利信息
申请号: 201711155427.9 申请日: 2017-11-20
公开(公告)号: CN107731795B 公开(公告)日: 2019-10-25
发明(设计)人: 李伊珂;李涅 申请(专利权)人: 清华四川能源互联网研究院
主分类号: H01L23/64 分类号: H01L23/64
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 郭彩红;詹永斌
地址: 610000 四川省成都市天*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种ESD器件串联电阻的电阻结构,把多晶硅电阻分成N个小部分,每一小部分均通过各自对应的Contact和Via连接到上部金属层;每一小部分所对应的Contact和Via及连接到上部金属层构成了一个独立单元;所述Via和上部金属层采用金属铝材料;所述Contact采用金属铝材料或铝合金材料;利用金属铝的热容特性,巧妙利用现有结构,在通过同样的ESD电流而导致发热时,不会导致电阻被损坏,同时,能大大缩小ESD器件所在电路整体尺寸。
搜索关键词: 一种 esd 器件 串联 电阻 结构
【主权项】:
1.一种ESD器件串联电阻的电阻结构,其特征在于:把多晶硅电阻分成N个小部分,每一小部分均通过各自对应的Contact和Via连接到上部金属层;每一小部分所对应的Contact和Via及连接到上部金属层构成了一个独立单元;所述Via和上部金属层采用金属铝材料;所述Contact采用金属铝材料或铝合金材料;所述N为大于等于2的自然数;所述多晶硅电阻为圆环状,对于同一层的上部金属层,将位于同一等势线上的金属连接在一起,间隔地位于电阻的等势线上;所述上部金属层包括第一金属层和顶部金属层。
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