[发明专利]一种基于低通滤波的磁信号测量装置与方法在审
申请号: | 201711155904.1 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN108008323A | 公开(公告)日: | 2018-05-08 |
发明(设计)人: | 夏红伟;张昊翔;马广程;王常虹;考永贵;安昊 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 范光晔 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: |
本发明提供了一种基于低通滤波的磁信号测量装置与方法,属于磁信号的测量与检测领域。本发明基于低通滤波的磁信号测量方法具体步骤为:步骤一:工控机运行,控制数模输出模块输出两路角频率分别为ω |
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搜索关键词: | 一种 基于 滤波 信号 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于低通滤波的磁信号测量装置,其特征在于,所述基于低通滤波的磁信号测量装置包括工控机(1)、数模输出模块(2)、模数采样模块(3)、线圈和信号接收器(6);工控机(1)的输出端连接着数模输出模块(2)的输入端;数模输出模块(2)的输出端连接着线圈的输入端;信号接收器(6)的输出端连接着模数采样模块(3)的输入端;模数采样模块(3)的输出端连接着工控机(1)的输入端。
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