[发明专利]一种结合光镊功能的扩展焦深显微成像系统

摘要

本发明公开了一种结合光镊功能的扩展焦深显微成像系统，包括：第一激光器、第一反射镜、第一分光镜、第一透镜、第二透镜、第一声光偏转器、第三透镜、第四透镜、第五透镜、第二声光偏转器、第六透镜、第二分光镜、第一二色镜、第二二色镜、第一物镜、样品台、第二物镜、第三二色镜、第三分光镜、第四分光镜、第五分光镜、第一四象限位置探测器、第二四象限位置探测器、位置探测器、LED光源、第一探测器、第二激光器、第一柱面透镜、柱面透镜组、第四二色镜、扫描振镜、第一望远系统、电控透镜、第二望远系统、第二反射镜、第三望远系统、狭缝、第三反射镜、第二柱面透镜、第二探测器。系统利用电控透镜扫描不同焦深平面，无机械振动且成像质量高。

主权项

1.一种结合光镊功能的扩展焦深显微成像系统，包括：第一激光器、第一反射镜、第一分光镜、第一透镜、第二透镜、第一声光偏转器、第三透镜、第四透镜、第五透镜、第二声光偏转器、第六透镜、第二分光镜、第一二色镜、第二二色镜、第一物镜、样品台、第二物镜、第三二色镜、第三分光镜、第四分光镜、第五分光镜、第一四象限位置探测器、第二四象限位置探测器、位置探测器、LED光源、第一探测器、第二激光器、第一柱面透镜、柱面透镜组、第四二色镜、扫描振镜、第一望远系统、电控透镜、第二望远系统、第二反射镜、第三望远系统、狭缝、第三反射镜、第二柱面透镜、第二探测器；待检测样品置于所述样品台上；其特征在于：所述第一激光器输出光束经第一反射镜反射后入射到第一分光镜，第一分光镜将光束分成第一光束和第二光束；其中第一光束透射经过第一分光镜后，经第一透镜、第二透镜、第一声光偏转器、第三透镜后从第二分光镜反射到达第一二色镜；第二光束经第一分光镜反射后，经第四透镜、第五透镜、第二声光偏转器、第六透镜后从第二分光镜透射同样到达第一二色镜。第一光束和第二光束经第一二色镜反射、第二二色镜透射，最后由第一物镜聚焦到样品台上形成两个光势阱，对样品中的粒子进行捕获和测量；第一光束和第二光束经过样品后，由第二物镜收集经第三二色镜反射到达第三分光镜被分光；第一光束和第二光束中由第三分光镜透射的部分经第四分光镜透射到达第一四象限位置探测器，第一光束和第二光束中由第三分光镜透射的部分经第四分光镜反射到达位置探测器；第一光束和第二光束中由第三分光镜反射的部分经第五分光镜透射到达第二四象限位置探测器，第一光束和第二光束中由第三分光镜反射的部分经第五分光镜反射到达位置探测器；第一四象限位置探测器、第二四象限位置探测器、位置探测器并行工作可以测出光势阱精确三维位置；所述第二激光器输出光束经第一柱面透镜扩束后到达柱面透镜组，被柱面透镜组一维整形后，从第四二色镜反射入射到扫描振镜上，经扫描振镜反射后经过第一望远系统、电控透镜、第二望远系统后由第二反射镜和第二二色镜反射到第一物镜，第一物镜将第二激光器输出光束聚焦到样品上，样品经第二激光器输出的光束照射激发产生荧光，荧光由第一物镜收集后，再分别经过第二二色镜和第二反射镜的反射，然后依次经过第二望远系统、电控透镜、第一望远系统，后经过扫描振镜反射、第四二色镜的透射入射到第三望远系统，第三望远系统中设有狭缝，狭缝将聚焦平面之外的荧光过滤后，经过第三望远系统准直、第三反射镜反射，再通过第二柱面透镜将荧光聚焦，最后经第二探测器收集并成像；所述LED光源经第三二色镜、第二物镜后照明到样品上，后由第一物镜收集、第二二色镜和第一二色镜透射入射到第一探测器上成像。