[发明专利]一种MEMS器件的晶圆级封装方法在审

专利信息
申请号: 201711161185.4 申请日: 2017-11-21
公开(公告)号: CN109809357A 公开(公告)日: 2019-05-28
发明(设计)人: 冯端;李平;胡念楚;贾斌 申请(专利权)人: 锐迪科微电子(上海)有限公司
主分类号: B81B7/02 分类号: B81B7/02;B81C3/00
代理公司: 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 代理人: 殷晓雪
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请公开了一种MEMS器件的晶圆级封装方法。首先,在MEMS晶圆上制作MEMS器件,在承载晶圆上通过临时键合材料附着封装结构。其次,将承载晶圆上的封装结构与MEMS晶圆键合在一起,所述封装结构与MEMS晶圆一起将MEMS器件密闭包围。再次,去除该临时键合材料从而将承载晶圆与封装结构相剥离,完成对MEMS器件的封装。本申请使得封装结构的制作过程不会影响或损害MEMS器件,降低了MEMS器件在封装过程中的损坏几率,封装材料的可选范围较宽,降低了封装成本。
搜索关键词: 封装结构 晶圆 晶圆级封装 临时键合 承载 封装 封装材料 封装过程 晶圆键合 制作过程 密闭 附着 可选 去除 申请 剥离 包围 损害 制作
【主权项】:
1.一种MEMS器件的晶圆级封装方法,其特征是,首先,在MEMS晶圆上制作MEMS器件,在承载晶圆上通过临时键合材料附着封装结构;其次,将承载晶圆上的封装结构与MEMS晶圆键合在一起,所述封装结构与MEMS晶圆一起将MEMS器件密闭包围;再次,去除该临时键合材料从而将承载晶圆与封装结构相剥离,完成对MEMS器件的封装。
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