[发明专利]光学计测装置有效
| 申请号： | 201711161577.0 | 申请日： | 2017-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN108507487B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 水谷浩希;菅孝博;滝政宏章 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都市下京区*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的光学计测装置不论计测对象物的表面形状如何，均可准确地计测出计测对象物的表面形状。处理部(70、70b)对于与各个芯材(241、242、…、24N)对应的各个反射光，根据反射光来算出光学系统(40)与计测对象物(80)的距离。对于各个反射光，将表示距离的值与阈值进行比较。当在与所有芯材(241、242、…、24N)对应的反射光中，表示距离的值为阈值以上、或表示距离的值小于阈值时，算出所有表示距离的值的平均值。当在与一部分芯材对应的反射光中，表示距离的值为阈值以上，而在与一部分芯材以外的芯材对应的反射光中，表示距离的值小于阈值时，算出阈值以上的表示距离的值的平均值、或小于阈值的表示距离的值的平均值。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光学计测装置，其特征在于包括：光源；光学系统，相对于来自所述光源的照射光而配置，将所述照射光照射至计测对象物，并接收来自所述计测对象物的计测面的反射光；至少一个分光器，将由所述光学系统所接收的所述反射光分离为各波长成分；受光部，与所述分光器的分光方向对应地配置有多个受光元件；导光部，包含多个芯材，将所述光源及所述光学系统、以及所述光学系统及所述分光器予以光学连接；以及处理部，所述处理部对于与各个所述芯材对应的各个所述反射光，根据所述反射光来算出所述光学系统与所述计测对象物的距离，对于各个所述反射光，将所述表示距离的值与阈值进行比较，当在与所有芯材对应的所述反射光中，所述表示距离的值为所述阈值以上、或所述表示距离的值小于所述阈值时，算出所有表示距离的值的平均值，当在与一部分芯材对应的所述反射光中，所述表示距离的值为所述阈值以上，而在与所述一部分芯材以外的芯材对应的所述反射光中，所述表示距离的值小于所述阈值时，算出所述阈值以上的表示距离的值的平均值、或小于所述阈值的表示距离的值的平均值。
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