[发明专利]限束器区域的检测方法、装置、X射线系统和存储介质有效
| 申请号： | 201711163923.9 | 申请日： | 2017-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN107871319B | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 张娜 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/181 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了限束器区域的检测方法、装置、X射线系统和存储介质，其中，获取待处理图像，并对待处理图像进行梯度变换，生成梯度图像；对梯度图像进行图像分割以生成二值模板图；对二值模板图在第一方向上进行一维投影，生成一维投影图像；在一维投影图像中沿着第二方向查找高度小于预设阈值的投影值，作为分割投影值，第二方向垂直于第一方向；根据分割投影值确定限束器区域。解决现有技术中，X射线图像的限束器区域检测算法性能较低的问题，实现了提高限束器区域检测速度和准确性的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 限束器 区域 检测 方法 装置 射线 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
一种限束器区域的检测方法，其特征在于，包括：获取待处理图像，并对所述待处理图像进行梯度变换，生成梯度图像；对所述梯度图像进行图像分割以生成二值模板图；对所述二值模板图在第一方向上进行一维投影，生成一维投影图像；在所述一维投影图像中沿着第二方向查找第一个高度小于预设阈值的投影值，作为分割投影值，所述第二方向垂直于所述第一方向；根据所述分割投影值确定限束器区域。
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