[发明专利]一种阵列天线的校准方法、设备、系统以及计算机可读存储介质

摘要

本发明公开了一种阵列天线的校准方法，包括如下步骤：S1.获得阵列天线的阵元方向图以及阵元方向图中心的位置；S2.馈入T组线性无关的端口激励I1,I2…IT，获得相应的T组口径场激励I′1,I′2…I′T；S3.根据T组线性无关的端口激励I1,I2…IT和T组口径场激励I′1,I′2…I′T计算得到校准矩阵C，其中对于任意一组对应的端口激励It和口径场激励I′t都有I′t＝C×It；S4.根据校准矩阵C对阵列天线各阵元进行校准。本发明通过较少的测量数据，结合阵列天线已知的先验知识，能够快速、高效地对阵列天线进行校准。与现有的校准方法相比，本发明的方法测量数据少，效率高，且系统组成简单，易于工程实现，成本低。

主权项

1.一种阵列天线的校准方法，其特征在于，所述阵列天线包括N个阵元，所述校准方法包括如下步骤：S1.获得所述阵列天线的阵元方向图以及阵元方向图中心的位置；S2.馈入T组线性无关的端口激励I₁，I₂…I_T，获得相应的T组口径场激励I′₁，I′₂…I′_T，具体包括如下步骤：S201.馈入端口激励I_t，t＝1，2，...，T；S202.获得M_t个测量点的位置以及阵列天线在M_t个测量点处的电/磁场的测量数据E_t，所述测量数据E_t包含幅度和相位信息，M_t≥N/3；S203.根据所述阵元方向图、阵元方向图中心的位置、测量点的位置以及测量数据E_t获得口径场激励I′_t；S3.根据T组线性无关的端口激励I₁，I₂…I_T和T组口径场激励I′₁，I′₂…I′_T计算得到校准矩阵C，其中对于任意一组对应的端口激励I_t和口径场激励I′_t都有I′_t＝C×I_t；S4.根据所述校准矩阵C对阵列天线各阵元进行校准。