[发明专利]一种阵列天线的诊断方法、设备、系统以及计算机可读存储介质有效
申请号: | 201711168204.6 | 申请日: | 2017-11-21 |
公开(公告)号: | CN109815509B | 公开(公告)日: | 2023-08-08 |
发明(设计)人: | 漆一宏;于伟;沈鹏辉 | 申请(专利权)人: | 深圳市通用测试系统有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 黄琼 |
地址: | 518101 广东省深圳市宝安区西*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明公开了一种阵列天线的诊断方法,包括如下步骤:S1.获得阵列天线的阵元的阵中方向图以及阵中方向图中心的位置;S2.馈入端口激励I;S3.获得M个第一测量点的位置以及阵列天线在M个第一测量点处的电/磁场的第一测量数据E;S4.根据阵中方向图、阵中方向图中心的位置、第一测量点的位置以及第一测量数据E获得口径场激励I′;S5.计算口径场激励I′与参考口径场激励I′ |
||
搜索关键词: | 一种 阵列 天线 诊断 方法 设备 系统 以及 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种阵列天线的诊断方法,其特征在于,所述阵列天线包括N个阵元,所述诊断方法包括如下步骤:S1.获得所述阵列天线的阵元的阵中方向图以及阵中方向图中心的位置;S2.馈入端口激励I;S3.获得M个第一测量点的位置以及阵列天线在M个第一测量点处的电/磁场的第一测量数据E,所述第一测量数据E包含幅度和相位信息,M≥N/3;S4.根据所述阵中方向图、阵中方向图中心的位置、第一测量点的位置以及第一测量数据E获得口径场激励I′;S5.计算所述口径场激励I′与参考口径场激励I′R的差值,对于单个阵元而言,如果差值大于预设阈值,则该阵元判定为故障阵元,如果差值小于预设阈值,则该阵元判定为正常阵元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市通用测试系统有限公司,未经深圳市通用测试系统有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711168204.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。