[发明专利]基于量子弱测量的光学测量仪以及样品折射率、旋光谱和手性分子对映体含量测量分析方法有效
| 申请号： | 201711168236.6 | 申请日： | 2017-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN108020504B | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 张志友;王德强;谢林果;邱晓东;罗兰;刘雄;李兆雪 | 申请（专利权）人： | 四川大学 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/21;G01N21/41 |
| 代理公司： | 51202 成都科海专利事务有限责任公司 | 代理人： | 郭萍 |
| 地址： | 610065 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于量子弱测量的光学测量仪以及样品折射率、旋光谱和手性分子对映体含量测量分析方法，本发明基于量子弱测量技术，在测量光路中，以入射光路中的前选择量子态与反射光路中的第一后选择量子态之间构造第一量子弱测量光路，以入射光路中的前选择量子态与折射光路中的第二后选择量子态之间构造第二量子弱测量光路，通过调整入射光束、反射光束和折射光束偏振态，可以使反射光束自旋分裂值和折射光束自旋分裂值扩大至少10 | ||
| 搜索关键词： | 基于 量子 测量 光学 测量仪 以及 样品 折射率 光谱 手性 分子 含量 分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于量子弱测量的光学测量仪，其特征在于包括光发生装置(1)、偏振态制备器(2)、棱镜(3)、样品(4)、第一偏振态选择器(5)、第二偏振态选择器(7)、第一光接收装置(6)、第二光接收装置(8)；所述样品(4)设计有光入射面和光出射面，其光入射面与棱镜(3)的一个侧面相贴合；由光发生装置(1)出射的光束经偏振态制备器(2)、棱镜(3)入射到样品(4)的光入射面，产生反射光束和折射光束，反射光束经第一偏振态选择器(5)由第一光接收装置(6)接收，折射光束经第二偏振态选择器(7)由第二光接收装置(8)接收；/n入射到样品(4)光入射面的光束偏振态为前选择量子态，反射光束经第一偏振态选择器(5)后的光束偏振态为第一后选择量子态，折射光束经第二偏振态选择器(7)后的光束偏振态为第二后选择量子态；入射光路中的前选择量子态与反射光路中的第一后选择量子态之间构成第一量子弱测量光路部分，入射光路中的前选择量子态与折射光路中的第二后选择量子态之间构成第二量子弱测量光路部分。/n
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