[发明专利]环向角度及环向位移测量装置和方法有效

专利信息
申请号: 201711169296.X 申请日: 2017-11-15
公开(公告)号: CN107748112B 公开(公告)日: 2023-07-07
发明(设计)人: 周辉;谢业统;卢景景;张传庆;胡大伟;姜玥;韩钢;李华志 申请(专利权)人: 中国科学院武汉岩土力学研究所
主分类号: G01N3/24 分类号: G01N3/24;G01N3/06
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 宋南
地址: 430000 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供的环向角度及环向位移测量装置和方法,涉及环剪试验技术领域。该环向角度及环向位移测量装置包括测量滑块、测量传感器和支架。测量滑块安装在剪切盒上,测量传感器与测量滑块连接,测量传感器固定安装在支架上。剪切盒用于对测试样本进行环剪试验,在环剪试验中,测量滑块随着剪切盒转动,测量滑块转动使测量传感器产生轴向位移,从而通过测量传感器能够计算出剪切盒的环向角度及环向位移,测量方便,测试结果准确。本发明提供的环向角度及环向位移测量方法,操作简单,测量精确,有助于提高环剪试验的效率及成功率。
搜索关键词: 角度 位移 测量 装置 方法
【主权项】:
一种环向角度及环向位移测量装置,其特征在于,所述环向角度及环向位移测量装置包括测量滑块、测量传感器和支架;所述测量滑块安装在剪切盒上,所述测量传感器与所述测量滑块连接,所述测量传感器固定安装在所述支架上;所述剪切盒用于对测试样本进行环剪试验,在所述环剪试验中,所述测量滑块随着所述剪切盒转动,所述测量滑块转动使所述测量传感器产生轴向位移,从而通过所述测量传感器能够计算出所述剪切盒、所述测试样本的环向角度及环向位移。
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