[发明专利]一种图像坏点检测方法、装置和图像处理芯片有效
申请号: | 201711174886.1 | 申请日: | 2017-11-22 |
公开(公告)号: | CN107948634B | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 袁扬智;刘俊秀;韦毅;石岭 | 申请(专利权)人: | 深圳开阳电子股份有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;G06T7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区高*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种图像坏点检测方法、装置和图像处理芯片,该方法包括步骤:接收图像原始数据,将图像原始数据的每一像素值减去预设的偏移电平,得到该像素点偏移校正后的偏移校正值;根据M帧图像内全像素点的所述偏移校正值的累加值,得到第一误差值;根据M帧图像内单一像素点的偏移校正值的累加值,得到第二误差值;根据所述偏移校正值与所述第二误差值的均值的差值的绝对值,得到第一绝对误差值,通过该第一绝对误差值是否超出预设的第一阈值,判断该像素点是否为坏点。本发明通过计算多重帧内和帧间的像素误差,使最终得到的误差绝对值准确地反映了像素点是否损坏,以及损坏的程度。 | ||
搜索关键词: | 一种 图像 检测 方法 装置 处理 芯片 | ||
【主权项】:
一种图像坏点检测方法,其特征在于,包括以下步骤:接收图像原始数据,将图像原始数据的每一像素点的像素值减去预设的偏移电平,得到该像素点偏移校正后的偏移校正值;根据M帧图像内单一像素点的偏移校正值的累加值,得到第二误差值;M为自然数;根据所述偏移校正值与所述第二误差值的均值的差值的绝对值,得到第一绝对误差值,通过判断该第一绝对误差值是否超出预设的第一阈值,判断该像素点是否为坏点。
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