[发明专利]存储器元件在审
| 申请号： | 201711175581.2 | 申请日： | 2017-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN108172258A | 公开（公告）日： | 2018-06-15 |
| 发明（设计）人： | 吕士濂;李坤锡;沙曼·阿德汗 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 李昕巍;章侃铱 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供一种存储器元件。存储器元件包括一存储器阵列以及一互相汉明距离分析器。存储器阵列包括多个区段，其中每一区段包括多个位元，以及多个区段的位元的数量是相同的。互相汉明差异分析器得到操作在不同操作条件下的多个区段的内容，以得到内容的多个互相汉明差异，并从多个区段的互相汉明差异中提供一最大互相汉明差异以及一最小互相汉明差异。互相汉明差异表示对应于一第一操作条件的多个区段的一区段的内容与对应于不同于第一操作条件的一第二操作条件的多个区段的另一区段的内容之间的不相似位元的数量。本公开提供的存储器元件可提高存储效率以及用来存储在不同条件下来自所有晶粒或芯片的位元的存储空间。 1 | ||
| 搜索关键词： | 存储器元件 位元 第一操作条件 存储器阵列 分析器 不同条件 存储空间 存储效率 汉明距离 晶粒 个位 存储 芯片 | ||
【主权项】：
1.一种存储器元件，包括：
一存储器阵列，包括多个区段，其中每一上述区段包括多个位元，以及上述区段的上述位元的数量是相同的；以及
一互相汉明差异分析器，得到操作在不同操作条件下的上述区段的内容，以得到上述内容的多个互相汉明差异，并从上述区段的上述互相汉明差异中提供一最大互相汉明差异以及一最小互相汉明差异，
其中上述互相汉明差异表示对应于一第一操作条件的上述区段的一区段的上述内容与对应于不同于上述第一操作条件的一第二操作条件的上述区段的另一区段的上述内容之间的不相似位元的数量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司，未经台湾积体电路制造股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711175581.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
