[发明专利]超高温材料光谱发射率测量系统及其使用方法在审
| 申请号： | 201711178565.9 | 申请日： | 2017-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN108007579A | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 郭聚光 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01J5/08 | 分类号： | G01J5/08;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11466 | 代理人： | 张璐;黄启行 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种超高温材料光谱发射率测量系统及其使用方法，测量系统包括红外光谱辐射测量设备、计算机控制系统、黑体辐射源、温度控制系统和辅助光路系统；温度控制系统上设置样品槽和黑体腔孔，将样品槽内的样品加热到设定的温度，计算机控制系统控制辅助光路系统，将此时样品的辐射和放在黑体腔孔内的黑体辐射源的辐射反射至红外光谱辐射测量设备，进行辐射测量，通过计算机控制系统计算得到样品的光谱发射率。本发明可以通过一体化的设计实现超高温材料的光谱发射率测量，与此同时，采用降低背景辐射技术极大地提高被测样品的光谱发射率测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 超高温 材料 光谱 发射 测量 系统 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
1.超高温材料光谱发射率测量系统，其特征在于，所述测量系统包括红外光谱辐射测量设备、计算机控制系统、黑体辐射源、温度控制系统和辅助光路系统；所述温度控制系统上设置样品槽和黑体腔孔，将所述样品槽内的样品加热到设定的温度，所述计算机控制系统控制所述辅助光路系统，将此时样品的辐射和放在所述黑体腔孔内的黑体辐射源的辐射反射至所述红外光谱辐射测量设备，进行辐射测量，在所述黑体腔孔腔口的有效发射率小于1时，通过所述计算机控制系统计算得到样品的光谱发射率。
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