[发明专利]一种高浊度水域水下护滩结构物下滩面冲淤厚度抽样测量方法有效

专利信息
申请号: 201711180287.0 申请日: 2017-11-23
公开(公告)号: CN107677228B 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 李为华;戴志军 申请(专利权)人: 华东师范大学;上海河口海岸科学研究中心
主分类号: G01B17/02 分类号: G01B17/02
代理公司: 44387 佛山帮专知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 颜春艳
地址: 200241 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种高浊度水域水下护滩结构物下滩面冲淤厚度的抽样测量方法,包括如下步骤:求取每一样方最大有效水深对应累积频率并初次识别存在的测量间隙的有效样方;确认上一测次有效样方的有效性,抽样测量并提取护滩结构物下滩面最大有效水深;抽样计算两测次间水下护滩结构物下滩面冲淤厚度。本发明采用低成本的非接触式声学测量方式,无人身安全风险,解决了剔除无效的海量水下护滩结构物高程数据和测深仪自身的偏深测量噪声的问题,可以定量抽样测得护滩结构物下滩面冲淤厚度。
搜索关键词: 护滩结构 滩面 测量 抽样 冲淤 最大有效 水深 非接触式 高程数据 累积频率 人身安全 声学测量 测深仪 低成本 高浊度 次间 剔除 噪声 水域
【主权项】:
1.一种高浊度水域水下护滩结构物下滩面冲淤厚度的抽样测量方法,其特征在于,包括如下步骤:/n步骤S1:求取每一样方最大有效水深对应累积频率并初次识别存在的测量间隙的有效样方;/n步骤S2:确认上一测次有效样方的有效性,抽样测量并提取护滩结构物下滩面最大有效水深;/n步骤S3:抽样计算两测次间水下护滩结构物下滩面冲淤厚度;/n所述步骤S1具体包括:/n步骤S101:水下护滩结构物抛投施工前,使用浅水多波束测深仪以超窄波束扫测工程区,得结构物抛投施工前滩面水深;/n步骤S102:水下护滩结构物抛投施工结束时,使用浅水多波束测深仪以超窄波束扫测工程区,得结构物抛投施工结束时地物水深;/n步骤S103:将测量区域均匀划分为若干边长为N米的样方,提取每一样方内结构物抛投施工前滩面水深子集和结构物抛投施工结束时地物水深子集;/n步骤S104:天然水下地形测量数据概率分布受测量噪声和地形起伏变化因素所决定,呈分段正态概率分布,同一成因数据子集呈正态分布;点汇每一样方内结构物抛投施工前滩面水深子集的正态累积频率曲线,设置线性分段拐点处频率f
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