[发明专利]一种基于状态分析的电子系统抗辐射性能评估方法在审
| 申请号： | 201711185000.3 | 申请日： | 2017-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN109829175A | 公开（公告）日： | 2019-05-31 |
| 发明（设计）人： | 葛秋红 | 申请（专利权）人： | 沈阳益泰科信息咨询有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 110000 辽宁省沈阳市*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种评估方法，尤其涉及一种基于状态分析的电子系统抗辐射性能评估方法。其用于分析电子系统在辐射环境下功能状态的变化，进而评估电子系统抗辐射能力。包括以下步骤。步骤1、系统分析。根据系统性能要求，确定系统性能表征量以及系统性能阈值。步骤2、系统分解。将系统分解为相对独立的子系统或部器件，便于独立开展相应的性能参数实验。步骤3、子系统或部器件性能参数选择。根据系统状态分析的需求，旋转适当的部器件性能参数。步骤4、子系统或部器件性能参数实验。开展性能参数可靠性试验，获取这些参数随可靠性分析因素的变化关系及其不确定度。步骤5、系统功能建模。步骤6、系统功能参数预测及评估。 | ||
| 搜索关键词： | 电子系统 器件性能参数 抗辐射 系统分解 系统功能 系统性能 性能参数 性能评估 状态分析 评估 系统性能要求 可靠性分析 可靠性试验 变化关系 不确定度 参数预测 辐射环境 功能状态 系统分析 系统状态 相对独立 表征量 建模 分析 | ||
【主权项】：
1.一种基于状态分析的电子系统抗辐射性能评估方法，其特征在于,包括以下几个步骤：步骤1、系统分析；根据系统性能要求，确定系统性能表征量以及系统性能阈值；步骤2、系统分解；将系统分解为相对独立的子系统或部器件，便于独立开展相应的性能参数实验；步骤3、子系统或部器件性能参数选择；根据系统状态分析的需求，旋转适当的部器件性能参数；步骤4、子系统或部器件性能参数实验；开展性能参数可靠性试验，获取这些参数随可靠性分析因素的变化关系及其不确定度；步骤5、系统功能建模；在步骤3及步骤4的实验数据的基础上，对系统进行功能建模；步骤6、系统功能参数预测及评估；对系统功能进行仿真，计算系统功能参数的裕量及不确定度，然后结合系统功能要求，对系统可靠性给出评估结果。
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