[发明专利]一种平板玻璃板微米级颗粒物取样方法

摘要

本发明公开一种平板玻璃板微米级颗粒物取样方法，根据AOI设备检测微米级颗粒物坐标位置、大小尺寸等特征信息，根据该检测信息，使用量具在平板玻璃确定颗粒物的初步位置，采用强光LED灯侧光斜照射该初步位置，确定颗粒物的准确位置，同时观测颗粒物影像，由颗粒物影像亮暗程度及重影特征判定颗粒物属性，然后对颗粒物的准确位置进行切割，并用PE保护专用膜或培养皿包装裁切玻璃平板样品，解决了平板玻璃颗粒物取样易被各种污染物干扰的问题，该方法具有较高的使用价值和推广价值。

主权项

1.一种平板玻璃板微米级颗粒物取样方法,其特征在于，包括以下步骤：S1、将平板玻璃固定在检查台，采用AOI设备检测平板玻璃上的颗粒物(3)，根据AOI设备检测的图像中颗粒物(3)的坐标，在平板玻璃上确定颗粒物(3)的初步位置；S2、在暗场条件下采用光源倾斜照射所述初步位置，寻找初步位置的颗粒物(3)，所述颗粒物(3)为对比度小于1000的亮点；；S3、对步骤S2中的颗粒物(3)进行位置标定；S4、将所述步骤S3中的标定的位置进行切割，提取玻璃平板样品(8)。