[发明专利]一种MMIC芯片及其背面划片道制作工艺在审

专利信息
申请号: 201711185665.4 申请日: 2017-11-23
公开(公告)号: CN107946274A 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 陈一峰 申请(专利权)人: 成都海威华芯科技有限公司
主分类号: H01L23/492 分类号: H01L23/492;H01L23/58;H01L21/3213;H01L21/48;B82Y30/00
代理公司: 成都华风专利事务所(普通合伙)51223 代理人: 徐丰,张巨箭
地址: 610029 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种MMIC芯片及其背面划片道制作工艺,在前道工艺完成接地通孔工艺的基础上,采用纳米银浆烧结工艺与厚金层制作工艺相结合,在接地通孔中实现纳米银浆填充,固化完成后,使得接地通孔填充满金属Ag层,整个晶圆表面高低起伏在20um以内,在此基础上,电镀一层Au层(或Cu、Ni等),并采用黄光工艺完成划片道制作。本发明在接地通孔填充纳米银浆并完成固化金属银层,使得芯片正面金属利用金属银替与背面金属联通,避免接地通孔侧壁金属化,在晶圆背面电镀2~10um厚度金属层,使得晶圆背面平坦化,利于光刻胶涂附。
搜索关键词: 一种 mmic 芯片 及其 背面 划片 制作 工艺
【主权项】:
一种MMIC芯片,其特征在于,包括处于正面部的正面金属层及处于背面部的衬底、接地通孔、金属银层、起镀层、厚金属层,所述接地通孔内设置有金属银层,所述衬底表面上设置有起镀层,所述起镀层表面上设置有厚金属层,所述厚金属层上设置有划片道,所述正面部上设置有与金属银层接触配合的正面金属层。
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