[发明专利]空气颗粒物的检测装置及检测方法在审
申请号: | 201711185946.X | 申请日: | 2017-11-23 |
公开(公告)号: | CN107831099A | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
发明(设计)人: | 张志伟 | 申请(专利权)人: | 北京是卓科技有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;G01N15/02;G01N15/00 |
代理公司: | 北京力量专利代理事务所(特殊普通合伙)11504 | 代理人: | 李之壮 |
地址: | 102200 北京市昌*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种空气颗粒物的检测装置,包括可切换波长光源单元、散射均光片单元、散射腔单元、陷光肼单元、测量室单元、光检测单元和计算机系统单元,可切换波长光源单元发射某一特定波长的光线,并照射到散射均光片单元上进行漫散射,产生的漫散射光照射到流经散射腔单元内的颗粒物上,进一步产生散射光,在轴向上的散射光进入到陷光肼单元内进行遮挡和消除,同时在轴向上的散射光再经过测量室单元到达光检测单元上产生电信号,该电信号传递至计算机系统单元进行计算处理,得到散射腔单元内的颗粒物的实时数量。本发明具有很高的浓度检测能力、颗粒物粒径大小检测能力、能见度检测能力。此外,本发明还提供一种空气颗粒物的检测方法。 | ||
搜索关键词: | 空气 颗粒 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种空气颗粒物的检测装置,其特征在于,包括:可切换波长光源单元(1),所述可切换波长光源单元(1)用于发射光线;散射均光片单元(2),所述散射均光片单元(2)位于所述可切换波长光源单元(1)的下方,所述散射均光片单元(2)用于对光线进行漫散射,产生漫散射光;散射腔单元(4),所述散射腔单元(4)位于所述可切换波长光源单元(1)的下方并位于所述散射均光片单元(2)的下侧,在所述散射腔单元(4)的左侧面上设有第一微孔,在所述散射腔单元(4)的右侧面上设有第二微孔,在所述散射腔单元(4)内流经有待测气体,所述待测气体内含有悬浮颗粒物(3);陷光肼单元(5),所述陷光肼单元(5)位于所述散射腔单元(4)的左侧,在所述陷光肼单元(5)内设有光学折射单元(12)和第一光阑单元(6),在所述第一光阑单元(6)上设有第三微孔,所述第一光阑单元(6)位于所述第一微孔和所述光学折射单元(12)之间,所述陷光肼单元(5)用于消除杂散光;测量室单元(7),所述测量室单元(7)位于所述散射腔单元(4)的右侧,在所述测量室单元(7)内设有第二光阑单元(13),在所述第二光阑单元(13)上设有第四微孔,所述第一微孔、所述第二微孔、所述第三微孔、所述第四微孔在同一水平面上,所述测量室单元(7)用于限定测量体积及消除杂散光;光检测单元(10),所述光检测单元(10)和所述测量室单元(7)相连;计算机系统单元(11),所述计算机系统单元(11)和所述光检测单元(10)相连。
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