[发明专利]量测系统与量测方法在审
申请号: | 201711187635.7 | 申请日: | 2017-11-24 |
公开(公告)号: | CN107966625A | 公开(公告)日: | 2018-04-27 |
发明(设计)人: | 张钰林;童凯炀;林茂青 | 申请(专利权)人: | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京先进知识产权代理有限公司11648 | 代理人: | 赵志显,刘海英 |
地址: | 201112 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开一种量测方法,包括以一控制器于一第一批次时间提供一第一控制指令给一第一量测装置;以该控制器于一第二批次时间提供一第二控制指令给一第二量测装置,该第一批次时间不同于该第二批次时间;以该第一量测装置依据该第一控制指令取得一待测电子装置的一第一量测数据;以及以该第二量测装置依据该第二控制指令取得该待测电子装置的一第二量测数据。本发明还公开一种量测系统。 | ||
搜索关键词: | 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种量测方法,其特征在于,包括:以一控制器于一第一批次时间提供一第一控制指令给一第一量测装置;以该控制器于一第二批次时间提供一第二控制指令给一第二量测装置,该第一批次时间不同于该第二批次时间;以该第一量测装置依据该第一控制指令取得一待测电子装置的一第一量测数据;以及以该第二量测装置依据该第二控制指令取得该待测电子装置的一第二量测数据。
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