[发明专利]基于加速栅数据的极小子样离子推力器可靠度确定方法有效
申请号: | 201711194996.4 | 申请日: | 2017-11-24 |
公开(公告)号: | CN107966311B | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 林逢春;王敏;王宗仁;仲小清;王学望 | 申请(专利权)人: | 中国空间技术研究院 |
主分类号: | G01M99/00 | 分类号: | G01M99/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 张晓飞 |
地址: | 100194 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 基于加速栅数据的极小子样离子推力器可靠度确定方法,步骤如下:1)采集离子推力器整机寿命试验数据;2)采集加速栅部组件试验数据;3)确定推力器寿命形状参数;4)对离子推力器的可靠性进行评估,得到可靠度。本发明通过加速栅部组件试验中加速栅寿命与整机寿命试验中推力器寿命之间的经验关系模型,利用加速栅部组件试验数据得到推力器寿命的形状参数,进而对离子推力器可靠性进行了评估,解决了整机寿命数据极少(仅1~2个)情况下离子推力器可靠性评估问题。 | ||
搜索关键词: | 基于 加速 数据 极小 离子 推力 可靠 确定 方法 | ||
【主权项】:
1.基于加速栅数据的极小子样离子推力器可靠度确定方法,其特征在于包括如下步骤:1)采集离子推力器整机寿命试验数据;具体为:设共有nu台离子推力器进行整机寿命试验,对于第j台推力器,采集以下数据:离子推力器整机寿命试验的加速栅厚度hu,j、离子推力器整机寿命试验的栅孔直径初始值D0,u,j和离子推力器整机寿命试验的加速栅电流Iu,j;其中,h、D0和I分别表示加速栅厚度、加速栅栅孔直径初始值和加速栅电流,角标u表示数据来自推力器整机寿命试验,角标j表示来自第j台推力器,j=1,2,…,nu;2)采集加速栅部组件试验数据;具体为:设共有np个加速栅试件进行部组件试验,对于第k个加速栅试件,采集以下试验数据:加速栅试件部组件试验的加速栅厚度hp,k、加速栅试件部组件试验的栅孔直径初始值D0,p,k和加速栅试件部组件试验的加速栅电流Ip,k;其中,角标“p”表示数据来自加速栅部组件试验,角标“k”表示来自第k台推力器,k=1,2,…,np;3)确定离子推力器寿命形状参数;具体为:31)计算获得寿命比例系数对于第k个加速栅试件,部组件试验与整机寿命试验的寿命比例系数Ck
式中,tu和tp分别表示推力器寿命和加速栅寿命,![]()
32)计算推力器寿命形状参数根据加速栅部组件试验数据得到的寿命比例系数Ck,按照下式计算推力器寿命形状参数m
4)对离子推力器的可靠性进行评估,得到可靠度;具体为:设离子推力器共有n个整机寿命数据,其中有r个失效数据,失效时间分别为t1,t2,…,tr;其余为中止数据,中止时间分别为tr+1,tr+2,…,tn;对于给定的任务时间t0,在置信度γ下,离子推力器可靠度单侧置信下限RL由下式给出
式中![]()
为χ2(υ)分布的分位数。
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