[发明专利]一种复用系统逻辑的存储器自测试控制器实现方法及装置有效

专利信息
申请号: 201711195201.1 申请日: 2017-11-24
公开(公告)号: CN108107867B 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 郭阳;邓丁;屈婉霞;宋结兵;胡春媚;李振涛;扈啸 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 周长清
地址: 410073 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种复用系统逻辑的存储器自测试控制器实现方法及装置,该方法的步骤为:S1.追踪存储器指定端口的外围的系统逻辑,并记录相应电路的拓扑关系;S2.分析步骤S1记录下的拓扑关系中哪些端口具有复用性以及其复用实现方式;S3.根据步骤S2所得的端口复用性,设计符合相应时序的存储器自测试控制器并对系统电路做出修改和调整。该装置用来实施上述方法。本发明具有实现方法简单、面积小、功耗低等优点。
搜索关键词: 存储器 自测试 控制器实现 复用系统 拓扑关系 存储器指定 时序 端口复用 分析步骤 复用实现 系统电路 系统逻辑 控制器 复用性 功耗 记录 电路 外围 追踪
【主权项】:
1.一种复用系统逻辑的存储器自测试控制器实现方法,其特征在于,步骤为:S1.追踪存储器指定端口的外围的系统逻辑,并记录相应电路的拓扑关系;S2.分析步骤S1记录下的拓扑关系中哪些端口具有复用性以及其复用实现方式;S3.根据步骤S2所得的端口复用性,设计符合相应时序的存储器自测试控制器并对系统电路做出修改和调整。
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