[发明专利]一种超低失真度测量方法在审
| 申请号： | 201711201206.0 | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN108226638A | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 张威;汪桃林;赵嫚;张贺;张正娴;范凤军 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所 |
| 主分类号： | G01R23/20 | 分类号： | G01R23/20 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种超低失真度测量方法，包括在信号接入频谱分析仪前，把正弦信号的基波分量衰减，即在正弦信号进入频谱分析仪前，加一级基波抑制网络，而让谐波信号无衰减的通过，进而进行超低失真度测量。本发明即基波抑制+频谱分析法，该方法综合基波抑制法和频谱分析法的优点，可以有效降低超低失真度测量的下限到‑130dB，解决了超低失真度无法准确测量的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 低失真度 基波抑制 测量 频谱分析法 频谱分析仪 正弦信号 衰减 基波分量 谐波信号 信号接入 准确测量 网络 | ||
【主权项】：
1.一种超低失真度测量方法，其特征在于，在信号接入频谱分析仪前，把正弦信号的基波分量衰减，即在正弦信号进入频谱分析仪前，加一级基波抑制网络，而让谐波信号无衰减的通过，进而进行超低失真度测量。
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