[发明专利]一种海水悬浮颗粒物沉降临界应力的原位测量方法及装置在审
申请号: | 201711201859.9 | 申请日: | 2017-11-27 |
公开(公告)号: | CN108037048A | 公开(公告)日: | 2018-05-15 |
发明(设计)人: | 赵亮;沈家葳;蒋昊 | 申请(专利权)人: | 天津科技大学 |
主分类号: | G01N15/04 | 分类号: | G01N15/04 |
代理公司: | 天津才智专利商标代理有限公司 12108 | 代理人: | 王顕 |
地址: | 300222 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: |
本发明公开了一种海水悬浮颗粒物沉降临界应力的原位测量方法,步骤如下:步骤一设定仪器参数;步骤二布放观测装置;步骤三获取各仪器原始数据;步骤四读取多普勒流速剖面仪的回声强度、三维高频点式流速仪的流速和光学后向散射浊度仪的后向散射浊度数据且进行预处理;步骤五计算后向散射强度S |
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搜索关键词: | 一种 海水 悬浮 颗粒 沉降 临界 应力 原位 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种海水悬浮颗粒物沉降临界应力的原位测量方法,步骤如下:步骤一:调设观测装置中各仪器的参数,观测装置包括:声学多普勒流速剖面仪、三维高频点式流速仪、光学后向散射浊度仪和温盐深仪,参数设置包括采样模式、频率、工作起止时间;步骤二:布设观测装置,将观测装置放置海底;步骤三:观测结束后从海底收回观测装置,获各取仪器原始数据;步骤四:数据读取和原始数据预处理,读取声学多普勒流速剖面仪原位测量的回声强度、三维高频点式流速仪原位测量的流速和光学后向散射浊度仪原位测量的后向散射浊度数据且进行预处理;步骤五:根据步骤四的回声强度计算后向散射强度SV 、流速计算底应力、浊度标定为质量浓度,并进一步用其标定后向散射强度SV ,用SV 反演悬浮物质量浓度SSC;步骤六:根据步骤五的悬浮物质量浓度SSC,计算SSC对时间的导数,当导数为负值且保持十分钟以上时,确定为发生沉降事件,统计发生沉降次数,并分别计算对应的底应力,最后,确定沉积物的沉降临界应力。
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