[发明专利]一种适用于四路低本底α、β测量仪的反符合装置在审
| 申请号： | 201711203208.3 | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN108226986A | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 徐静;兴雁;文建生;刘超;王志;陈洁;王婷婷;张庆威;林德雨 | 申请（专利权）人： | 中核控制系统工程有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/16 | 分类号： | G01T1/16 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 张雅丁 |
| 地址： | 100176 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及辐射测量技术领域，具体公开了一种适用于四路低本底α、β测量仪的反符合装置，包括四个主探测器、三个反符合探测器、设于主探测器和反符合探测器之间的样品盘抽拉装置以及反符合晶体。本发明针对四路低本底α、β测量仪，选择三个反符合探测器两两等间距排列进行探测，在兼顾经济的前提下，有效降低了本底，保证了仪器微弱放射性水平的精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 符合探测器 符合装置 主探测器 测量 辐射测量技术 等间距排列 放射性水平 抽拉装置 测量仪 样品盘 探测 保证 | ||
【主权项】：
1.一种反符合装置，适用于四路低本底α、β测量仪，其特征在于：包括主探测器一(1)、主探测器二(2)、主探测器三(3)、主探测器四(4)、样品盘抽拉装置(5)、反符合晶体、反符合探测器一(6)、反符合探测器二(7)、反符合探测器三(8)；所述的样品盘抽拉装置(5)为圆柱体形状，在其侧面设有可推拉的抽屉，抽屉内设有样品盘，样品设于样品盘上；在样品盘抽拉装置(5)的上方设有上铅室，在样品盘抽拉装置(5)的下方设有下铅室；所述主探测器一(1)、主探测器二(2)、主探测器三(3)和主探测器四(4)，均设于样品盘抽拉装置(5)的上方，位于上铅室内；主探测器一(1)、主探测器二(2)、主探测器三(3)和主探测器四(4)的轴线互相平行且均与样品盘抽拉装置(5)的上表面垂直；在样品盘抽拉装置(5)的下方设有反符合晶体，反符合晶体位于下铅室顶端，在反符合晶体的下表面设有凹槽；所述的反符合探测器一(6)、反符合探测器二(7)和反符合探测器三(8)位于下铅室，且内嵌设于反符合晶体的凹槽内；所述的反符合探测器一(6)、反符合探测器二(7)和反符合探测器三(8)的轴线互相平行且均与样品盘抽拉装置(5)的下表面垂直。
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