[发明专利]同分异构体混合物定性和定量分析光电离质谱装置和方法有效
申请号: | 201711204821.7 | 申请日: | 2017-11-27 |
公开(公告)号: | CN109841484B | 公开(公告)日: | 2020-06-23 |
发明(设计)人: | 花磊;王艳;蒋吉春;李海洋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院大连化学物理研究所 |
主分类号: | H01J49/04 | 分类号: | H01J49/04 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 马驰 |
地址: | 116023 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明提供了同分异构体混合物定性和定量分析光电离质谱装置和方法。光电离质谱装置包括从上至下依次设置的上端密闭下端开口的电离源腔体、上下两端开口的离子传输区腔体和上端开口下端密闭的质量分析器腔体;电离源腔体和离子传输区腔体之间设置有平板状电离源出口电极。所述同分异构体混合物定性和定量分析方法基于同分异构体不同组分在不同解离电场下碎片化程度存在差异的特性,在光电离质谱中引入了碰撞能量可控的碰撞诱导解离,分别获取不同解离电场强度下同分异构体各组分及其混合物的特征谱图;根据同分异构体各组分的特征离子种类和相对强度,建立分析算法,可实现同分异构体混合物中各组分快速、准确的定性和定量分析。 | ||
搜索关键词: | 同分异构 混合物 定性 定量分析 电离 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.同分异构体混合物定性和定量分析光电离质谱装置,包括从上至下依次设置的上端密闭下端开口的电离源腔体(101)、上下两端开口的离子传输区腔体(102)和上端开口下端密闭的质量分析器腔体(103);电离源腔体(101)和离子传输区腔体(102)之间设置有平板状电离源出口电极(107),电离源腔体(101)下开口端和离子传输区腔体(102)上开口端分别与电离源出口电极(107)密闭连接;离子传输区腔体(102)和质量分析器腔体(103)之间设置有平板状差分接口板(110),离子传输区腔体(102)下开口端和质量分析器腔体(103)上开口端分别与差分接口板(110)密闭连接;于电离源腔体(101)、离子传输区腔体(102)和质量分析器腔体(103)的侧壁上均分别开设有真空泵接口,其特征在于:电离源出口电极(107)和差分接口板(110)相互平行设置,电离源出口电极(107)和差分接口板(110)中部均开设有通孔、且它们的通孔同轴;于电离源腔体(101)内部设置有1个以上的平板状电离区电极(106),1个以上的电离区电极(106)和电离源出口电极(107)相互间隔、平行设置,电离区电极(106)中部开设有通孔,且与电离源出口电极(107)通孔同轴;一紫外光源(104)发出的紫外光束(113)位于电离源腔体(101)内部,紫外光束(113)穿过电离区电极(106)通孔中心区域,照射在电离源出口电极(107)表面,紫外光束(113)传输方向和电离区电极(106)通孔同轴;一样品气体进样管(105)穿过电离源腔体(101)的外壁伸入在电离源腔体(101)内部,样品气体进样管(105)的气体出口端面向电离区电极(106)的通孔区域,样品气体进样管(105)的气体入口端与外部的样品气源(112)相连;于离子传输区腔体(102)内部、沿电离源出口电极(107)到差分接口板(110)通孔的轴线方向依次设置有离子传输区入口电极(108)和静电离子透镜(109),电离源出口电极(107)、离子传输区入口电极(108)、静电离子透镜(109)和差分接口板(110)相互间隔设置;所述离子传输区入口电极(108)为中部带有通孔的平板式金属电极、或带有轴线通孔的圆锥式金属电极、或由4根、6根或8根平行设置的金属圆杆组成的四极杆、六极杆或八极杆电极;于电离源出口电极(107)和离子传输区入口电极(108)上按照电压从高到低的顺序分别加载不同电压,在电离源出口电极(107)和离子传输区入口电极(108)间隔区域的轴向方向上形成大小为1~500V/cm的解离电场E;于质量分析器腔体(103)内部设置有质量分析器(111)。
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