[发明专利]基于ERC32的星载软件抗单粒子翻转故障的测试方法有效
| 申请号： | 201711207545.X | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN107992412B | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 陆灵君;胡晓刚;胡浩;施雯;李晓敏 | 申请（专利权）人： | 上海航天测控通信研究所 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F11/10;G06F8/41 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于ERC32的星载软件抗单粒子翻转故障的测试方法，运行于ERC32星载软件测试平台，具体包括：利用测试平台的ERC32芯片所自带的TESCTR寄存器，根据程序运行区SRAM的特点设计向所述程序运行区SRAM注入EDAC一位错和两位错故障的功能；根据程序存储区EEPROM自带软件锁的特点，设计向EEPROM注入EDAC一位错和两位错故障的功能；最后将故障注入功能模块加载到被测试的星载软件中编译运行，实现对星载软件的抗单粒子功能有效性的测试。该方法无需留下JTAG接口，无需硬件仿真器，只需要加入一段软件代码，就可以可靠灵活的对星载软件进行抗单粒子翻转故障的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 erc32 软件 粒子 翻转 故障 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于ERC32的星载软件抗单粒子翻转故障的测试方法，其特征在于，该方法运行于ERC32星载软件测试平台，具体包括：利用ERC32星载软件测试平台的ERC32芯片所自带的TESCTR寄存器，根据程序运行区SRAM的特点设计向所述程序运行区SRAM注入EDAC一位错和两位错故障的功能；根据程序存储区EEPROM自带软件锁的特点，设计向EEPROM注入EDAC一位错和两位错故障的功能，由于EEPROM只是星载软件的存储区，不是运行区，故EEPROM的单粒子翻转故障需由运行在SRAM的星载软件检测发现；最后将所述故障注入功能模块加载到被测试的星载软件中编译运行，模拟星载计算机中的单粒子故障，以实现对所述星载软件的抗单粒子功能有效性的测试。
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