[发明专利]一种近场天线测试控制装置及其测试方法

摘要

本发明公开了一种近场天线测试控制装置及其测试方法，包括主控计算机、矢量网络分析仪、测试控制模块、波控模块、平面扫描架及控制系统、射频开关模块；本发明准确获取了由频率切换、波位切换、通道切换、数据采集及传输、存储的时间，依此计算位置误差，补偿到扫描路径中去，从而保证了扫描架双向扫描时每个测试位置点测试数据的准确性和有效性，并通过速度优化提高了测试效率。该发明可应用于雷达、通信等诸多领域的相控阵天线测试。

主权项

一种近场天线测试控制装置，其特征在于，包括主控计算机、矢量网络分析仪、测试控制模块、波控模块、平面扫描架及控制系统、射频开关模块；主控计算机，用于向扫描架控制系统发送各种控制指令、向矢量网络分析仪发送参数设置指令和测试指令，以及从矢量网络分析仪读取采集数据；矢量网络分析仪，用于接收主控计算机的参数设置指令；测试控制模块，用于接收扫描架控制器发送的位置触发信号，根据时序设计规则发送波控切换信号到波控模块，发送通道切换信号到射频开关模块，发送测试触发信号到矢量网络分析仪，并根据Ready信号获取单个位置点的总响应时间；波控模块，用于接收测试控制模块的波位切换信号，发送波控指令到待测天线，完成天线阵面布相；平面扫描架及控制系统，用于接收主控计算机发送的控制指令并控制X轴和Y轴进行连续运动，根据接收到的主控计算机发送的位置误差值规划探头扫描路径消除位置误差；射频开关模块，接收测试控制模块发出的通道切换信号，切换到相应通道。