[发明专利]一种应用于航天器表面OSR粘贴胶层缺陷检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 201711208712.2 申请日: 2017-11-27
公开(公告)号: CN107991310B 公开(公告)日: 2020-11-06
发明(设计)人: 孙敬文;陈砚朋;张红梅;任晓雯;隋微微;彭聪 申请(专利权)人: 上海卫星装备研究所
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 庄文莉
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种应用于航天器表面OSR粘贴胶层缺陷检测系统,包括真空泵组件、施压袋膜、密封胶条、工业相机以及布片图,所述真空泵组包括真空泵、吸气管路以及真空阀门,工作时真空度不低于0.092Mpa;所述施压袋膜为透光性良好,厚度为40μm~80μm的聚氯乙烯、聚乙烯、聚丙烯或其他树脂制成的薄膜。本发明的缺陷检测系统及检测方法,利用了在真空压覆过程中,胶层缺陷处OSR会产生凹陷现象,压覆在OSR造成基片的弹性弯曲,从而表面状态高度不一致,从而反映出缺陷区域存在的大小、形状和位置,以判断其对产品质量的影响,可以快速高效的进行胶层缺陷检测、大幅度节省时间和人力、成本低、可靠性高。
搜索关键词: 一种 应用于 航天器 表面 osr 粘贴 缺陷 检测 方法 系统
【主权项】:
一种应用于航天器表面OSR粘贴胶层缺陷检测系统,其特征在于,包括真空泵组件、施压袋膜、密封胶条、工业相机以及布片图,所述真空泵组包括真空泵、吸气管路以及真空阀门,工作时真空度不低于0.092Mpa;所述施压袋膜为透光性良好,厚度为40μm~80μm的聚氯乙烯、聚乙烯、聚丙烯或其他树脂制成的薄膜。
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