[发明专利]一种基于n长基区碳化硅晶闸管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201711209284.5 申请日: 2017-11-27
公开(公告)号: CN108039367B 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 蒲红斌;刘青;王曦;李佳琪 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: H01L29/74 分类号: H01L29/74;H01L29/16;H01L21/332
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 谈耀文
地址: 710048*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开的一种基于n长基区碳化硅晶闸管,包括自下而上依次设置的阳极欧姆电极、碳化硅p+发射区外延层、碳化硅n+缓冲层、碳化硅n型长基区外延层、碳化硅p短基区外延层、碳化硅n+发射区外延层;碳化硅n+发射区外延层上覆盖有阴极欧姆电极;碳化硅p短基区外延层上部镶嵌有两个碳化硅p+区;每个碳化硅p+区上覆盖有门极欧姆电极,门极欧姆电极与碳化硅n+发射区外延层设置有隔离层。在高质量的n型碳化硅衬底上外延生长得到的p+外延层来取代p型碳化硅衬底,能够将串联电阻减小约两个数量级。
搜索关键词: 一种 基于 长基区 碳化硅 晶闸管 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种基于n长基区碳化硅晶闸管,其特征在于,包括自下而上依次设置的阳极欧姆电极(1)、碳化硅p+发射区外延层(2)、碳化硅n+缓冲层(3)、碳化硅n型长基区外延层(4)、碳化硅p-短基区外延层(5)、碳化硅n+发射区外延层(6),所述碳化硅n+发射区外延层(6)与碳化硅p-短基区外延层(5)形成台面;所述碳化硅n+发射区外延层(6)上覆盖有阴极欧姆电极(7);所述碳化硅p-短基区外延层(5)上部镶嵌有两个碳化硅p+区(8),并且两个所述碳化硅p+区(8)分别位于碳化硅n+发射区外延层(6)末端之外;每个所述碳化硅p+区(8)上覆盖有门极欧姆电极(9),所述门极欧姆电极(9)与碳化硅n+发射区外延层(6)设置有隔离层(10),所述隔离层(10)厚度等于碳化硅n+发射区外延层(6)与阴极欧姆电极(7)的厚度之和。
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