[发明专利]设备的测试方法、装置、系统、存储介质和处理器

摘要

本发明公开了一种设备的测试方法、装置、系统、存储介质和处理器。该方法包括：向目标设备输入模拟的开入信号；获取目标设备输出的与开入信号对应的目标报文；通过目标报文对应的通道状态确定目标设备的性能指标。通过本发明，达到了提高设备的测试效率的效果。

主权项

1.一种设备的测试方法，其特征在于，包括：

向目标设备输入模拟的开入信号；

获取所述目标设备输出的与所述开入信号对应的目标报文；

通过所述目标报文对应的通道状态确定所述目标设备的性能指标。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述目标设备根据所述开入信号输出的目标报文包括：

获取所述目标设备分别在多种开出频率下，输出的与所述开入信号对应的所述目标报文。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，获取所述目标设备分别在多种所述开出频率下，输出的与所述开入信号对应的所述目标报文包括以下至少之一：

获取所述目标设备分别在一个开出通道的多种所述开出频率下，输出的与所述开入信号对应的所述目标报文；

获取所述目标设备同时在多个所述开出通道的所述开出频率下，输出的与所述开入信号对应的所述目标报文；

获取所述目标设备依次在多个所述开出通道的所述开出频率下，输出的与所述开入信号对应的所述目标报文；

获取所述目标设备在多个所述开出通道中的随机一个所述开出通道的所述开出频率下，输出的与所述开入信号对应的所述目标报文。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，通过所述目标报文对应的通道状态确定所述目标设备的性能指标包括：

检测所述目标报文对应的所述通道状态和所述开出通道的状态是否一致，得到检测结果；

根据所述检测结果确定所述目标设备的所述性能指标。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述性能指标包括以下至少之一：

第一指标，用于指示所述目标设备对一个所述开出通道的多个所述开出频率的分辨能力；

第二指标，用于指示所述目标设备同时在多个所述开出通道的所述开出频率下，对所述开入信号的处理能力；

第三指标，用于指示所述目标设备依次在多个所述开出通道的所述开出频率下，对所述开入信号的处理能力；

第四指标，用于指示所述目标设备在多个开出通道中的随机一个开出通道的所述开出频率下，对所述开入信号的处理能力。

6.一种设备的测试装置，其特征在于，包括：

输入单元，用于向目标设备输入模拟的开入信号；

获取单元，用于获取所述目标设备输出的与所述开入信号对应的目标报文；

确定单元，用于通过所述目标报文对应的通道状态确定所述目标设备的性能指标。

7.一种设备的测试系统，其特征在于，包括：

信号发生装置，用于向目标设备输入模拟的开入信号；

处理装置，与所述信号发生装置相连接，用于获取所述目标设备输出的与所述开入信号对应的目标报文，通过所述目标报文对应的通道状态确定所述目标设备的性能指标。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述信号发生装置包括：

开出模块，用于控制向所述目标设备输入模拟的所述开入信号的开出时间、开出间隔和开出频次。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述开出模块通过固体继电器控制向所述目标设备输入模拟的所述开入信号的所述开出时间、所述开出间隔和所述开出频次。

10.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述处理装置包括：

通讯模块，用于接收所述目标设备输出的与所述开入信号对应的目标报文。

11.根据权利要求10所述的系统，其特征在于，所述通讯模块通过基于FPGA的时间戳标记电路，对所述目标报文标记时间戳。

12.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述测试系统还包括：

时钟模块，用于确定所述信号发生装置和所述处理装置在处理事件时的时间。

13.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求1至5中任意一项所述的设备的测试方法。

14.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至5中任意一项所述的设备的测试方法。