[发明专利]一种基于六维调整的反转法直线度测量装置在审

专利信息
申请号: 201711214332.X 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN107727051A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 袁道成;陶鑫;朱元庆;刘波 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
主分类号: G01B21/24 分类号: G01B21/24
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心51210 代理人: 翟长明,韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种直线度测量装置,具体地说是一种基于六维重复定位的反转法直线度测量装置,包括六维调整平台、反转平尺和微位移传感器。通过六维调整平台,可以实现反转直线的六维姿态调整;反转平尺两端有直线两点标识球,通过微位移传感器测量直线两点标识球确定反转直线位置,实现反转直线反转前后两次高精度重复定位,进一步实现高精度的直线度误差分离测量。
搜索关键词: 一种 基于 调整 反转 直线 测量 装置
【主权项】:
一种基于六维调整的反转法直线度测量装置,包括传感器安装臂(1)、传感器安装座(2)、微位移传感器(27)、反转平尺(4)、六维调整平台(5),其特征是,所述微位移传感器(27)安装在传感器安装座上,传感器安装座(25)固定在传感器固定臂(1)上,传感器固定臂(1)安装在被测导轨(8)上,可随被测导轨移动;所述六维调整平台(5)底座由三个支撑脚(53)和三点支撑平台基板(54)组成,其中两个支撑脚对称分布在平台一侧,另一个支撑脚分布在平台另一侧中间;所述六维调整平台(5)主调整体由两个三维微位移台(52)和三个平尺支撑球(51)组成,三维微位移台(52)固定于三点支撑平台基板(54)两侧,两个三维微位移台(52)上基面分别固定1个和2个平尺支撑球(51);所述反转平尺(4)放置于三个平尺支撑(51)上;反转平尺(4)两端有直线两点标识球(42)。
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