[发明专利]一种超导器件测试系统和方法有效
| 申请号： | 201711217953.3 | 申请日： | 2017-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN108072820B | 公开（公告）日： | 2020-05-01 |
| 发明（设计）人： | 康焱 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 许志勇 |
| 地址： | 100854 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种超导器件测试系统和方法。系统包括交流模块、放大模块、直流模块、并流模块、选择模块、输出模块、示波器、精密电压表。交流模块产生正弦信号。放大模块对正弦信号进行放大，产生第一扫描信号。直流模块产生直流信号。并流模块将第一扫描信号累加在直流信号上，产生第二扫描信号。选择模块在所述第一扫描信号和第二扫描信号中选择输出。输出模块同时输出2路第二扫描信号，一路输入到示波器的电流输入端，另一路输入到超导器件；超导器件电压输出端接精密电压表和示波器电压输入端。本发明还提供一种超导器件测试方法。本发明用于直观地测量超导器件在低温下的工作参数数据，为超导器件驱动提供数据信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超导 器件 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种超导器件测试系统，其特征在于，包括交流模块、放大模块、直流模块、并流模块、选择模块、输出模块、示波器、精密电压表；所述交流模块，用于产生正弦信号；所述放大模块，用于对所述正弦信号进行放大，产生第一扫描信号；所述直流模块，用于产生直流信号；所述并流模块，用于将所述第一扫描信号累加在所述直流信号上，产生第二扫描信号；所述选择模块，用于在所述第一扫描信号和第二扫描信号中选择输出；所述输出模块，同时输出2路第二扫描信号，一路用于输入到所述示波器的电流输入端，另一路用于输入到超导器件；所述超导器件的电压输出端，用于接入所述精密电压表和所述示波器电压输入端。
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