[发明专利]一种基于矩阵分析的图像纹理提取方法在审
申请号: | 201711225115.0 | 申请日: | 2017-11-29 |
公开(公告)号: | CN107833247A | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
发明(设计)人: | 刘贵全;叶剑鸣;印金汝 | 申请(专利权)人: | 合肥赑歌数据科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/60 | 分类号: | G06T7/60 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司31253 | 代理人: | 冯子玲 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于矩阵分析的图像纹理提取方法,图像特征分析方法领域。本发明中分析任意像素点与其偏离像素点的灰度差值,分析图像灰度值的等级差数,对任意像素点的等级差数进行遍历分析,分析相应的等级差数出现的次数及相应的总次数;包括分析图像纹理特征信息,对图像纹理覆盖面积进行分析,对图像灰度分布均匀程度进行分析,对图像纹理的随机特性进行相应分析,对图像纹理自相关性进行分析。本发明通过对图像对象的图像信息熵进行分析计算,将图像对象的图像平整程度和纹理均匀性进行量化分析;通过对图像纹理自相关性进行分析处理,并与图像灰度像素点的方向向量结合,从而有效进行图像特征分析。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 矩阵 分析 图像 纹理 提取 方法 | ||
【主权项】:
一种基于矩阵分析的图像纹理提取方法,其特征在于:包括建立图像灰度共生矩阵模型;设立相应宽度和高度的图像范围数据,分析任意像素点与其偏离像素点的灰度差值,分析图像灰度值的等级差数,对任意像素点的等级差数进行遍历分析,分析相应的等级差数出现的次数及相应的总次数;包括分析图像纹理特征信息,对图像纹理覆盖面积进行分析,对图像灰度分布均匀程度进行分析,对图像纹理的随机特性进行相应分析,对图像纹理自相关性进行分析。
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