[发明专利]受试体处理方法及受试体处理装置有效

专利信息
申请号: 201711231782.X 申请日: 2017-11-30
公开(公告)号: CN108117984B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 川本泰子;田川礼人 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: C12M1/42 分类号: C12M1/42;C12M1/00
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 郑天松
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及受试体处理方法及受试体处理装置。本发明旨在抑制在具备用于处理对象成分的流路的受试体处理芯片上有对象成分的粒子残留在流路内。本发明的受试体处理方法是用于使用作为受试体处理芯片100的形成了流路201的受试体处理芯片100而处理受试体中的对象成分20的受试体处理方法,其通过向流路201导入在与在对象成分20的处理中使用的处理液体21之间形成界面23的流体24,在与含具有对象成分20的粒子22的处理液体21之间形成与流路201的内壁面11接触的界面23,通过使形成的界面23在与内壁面11接触的状态下沿流路201移动,将滞留在处理液体21中的粒子22由导入的流体24压出。本发明的受试体处理装置是在上述受试体处理方法中使用的装置。
搜索关键词: 受试体 处理 方法 装置
【主权项】:
用于使用受试体处理芯片来处理受试体中的对象成分的受试体处理方法,所述受试体处理芯片上形成了流路,其中通过向上述流路导入流体而在与上述处理液体之间形成与上述流路的内壁面接触的界面,上述流体在与在上述对象成分的处理中使用的处理液体之间形成上述界面,上述处理液体含具有上述对象成分的粒子,通过使形成的上述界面在与上述内壁面接触的状态下沿上述流路移动,将滞留在上述处理液体中的上述粒子由导入的上述流体压出。
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