[发明专利]一种电成像测井图像增强显示处理方法在审
申请号: | 201711234958.7 | 申请日: | 2017-11-30 |
公开(公告)号: | CN108252707A | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
发明(设计)人: | 张中庆;张彦伟 | 申请(专利权)人: | 杭州迅美科技有限公司 |
主分类号: | E21B47/002 | 分类号: | E21B47/002;E21B49/00;G06T5/00 |
代理公司: | 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 | 代理人: | 张宇娟 |
地址: | 310012 浙江省杭州市西*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开了一种电成像测井图像增强显示处理方法,首先通过电成像仪器测井获取成像数据;然后根据测井仪器参数对成像数据进行电扣深度对齐;对成像数据进行坏数据检测和剔除;对进行坏数据剔除后的成像数据进行PALM处理(PALM:Phase Activation Localization Microscopy,相阵激励定位显微技术);对PALM处理后的数据进行成像显示处理,得到成像图。该方法能够有效消除泥浆间隙和泥饼等因素对成像测量产生的影响,有效提高成像测井图像的清晰度和分辨率。 | ||
搜索关键词: | 成像数据 电成像测井图像 显示处理 坏数据 剔除 测井仪器 成像测井 成像测量 成像显示 显微技术 对齐 成像图 电成像 分辨率 泥浆 测井 和泥 图像 检测 | ||
【主权项】:
1.一种电成像测井图像增强显示处理方法,其特征在于,在数据成像显示之前包括步骤:PALM数据处理,其中PALM定义为:Phase Activation Localization Microscopy,相阵激励定位显微技术;具体包括步骤:1)确定特征增强系数矩阵,所述特征增强系数矩阵为M×N阶矩阵,其中M>1,N>1且M、N为奇数;2)选定需要进行校正处理的点,也称为当前点,所述当前点与所述特征增强系数矩阵中第(M+1)/2行、第(N+1)/2列的系数对应,以所述当前点周围包含其自身在内的多个数据点构成与所述特征增强系数矩阵匹配的矩形阵列区域,使所述特征增强系数矩阵中的系数与所述矩形阵列区域中的数据点一一对应,根据所述特征增强系数矩阵对所述当前点进行校正处理。
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