[发明专利]基于垂直隧穿的场效应晶体管、生物传感器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201711236051.4 申请日: 2017-11-30
公开(公告)号: CN108074979A 公开(公告)日: 2018-05-25
发明(设计)人: 高安然;赵兰天;赵清太;李铁;王跃林 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L21/331;H01L29/10;G01N27/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 佟婷婷
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种基于垂直遂穿的场效应晶体管及生物传感器及制备,晶体管制备包括:提供SOI衬底;减薄顶层硅,定义出硅纳米线沟道图形及连接于两端的源区图形及漏区图形;将上述图形转移至顶层硅上,并进行离子注入形成硅纳米线沟道、源区及漏区;减薄源区,并于部分源区表面及纳米线沟道表面形成介质层;于源区的表面制作源电极,于所述漏区表面制作漏电极,并于底层硅或埋氧层上制作栅电极。通过上述方案,本发明的晶体管基于垂直隧穿,包含点隧穿和线隧穿,具有更低的亚阈值斜率,可用于高灵敏的生化分子检测;具有双极特性,可对双向检测结果进行对照,保证检测的准确性;采用高K介质层材料,增强检测的稳定性并提高对生物分子的响应能力。
搜索关键词: 源区 隧穿 漏区 制备 场效应晶体管 硅纳米线沟道 生物传感器 垂直 顶层硅 晶体管 减薄 生化分子检测 纳米线沟道 亚阈值斜率 高K介质层 表面形成 生物分子 双极特性 双向检测 图形转移 响应能力 底层硅 介质层 漏电极 埋氧层 栅电极 制作源 电极 检测 衬底 可用 制作 离子 灵敏 保证
【主权项】:
1.一种基于垂直隧穿的场效应晶体管的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:1)提供一SOI衬底,所述SOI衬底包括底层硅、埋氧层以及顶层硅;2)减薄所述顶层硅至第一厚度,并采用光刻工艺定义出硅纳米线沟道图形以及连接于所述硅纳米线沟道图形两端的源区图形及漏区图形;3)采用刻蚀工艺将所述硅纳米线沟道图形、源区图形及漏区图形转移至所述顶层硅上,并向所述源区图形对应的位置进行第一导电类型的离子注入,向所述漏区图形对应的位置进行第二导电类型的离子注入,以形成硅纳米线沟道、源区及漏区;4)减薄所述源区至第二厚度,并于部分所述源区的表面以及所述纳米线沟道的表面形成一层连续的介质层;以及5)于裸露的所述源区的表面制作源电极,于所述漏区表面制作漏电极,于所述底层硅远离所述埋氧层一侧的表面或所述硅纳米线沟道周围裸露的所述埋氧层上制作栅电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所,未经中国科学院上海微系统与信息技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711236051.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top